低輝度レベル積分球標準光源 OLシリーズ426-S

  • 150W タングステン石英ハロゲン反射型ランプ
  • 積分球サイズ 6/8/12/18 inchから選択可能
  • 温度安定モニターディテクター搭載
  • 電源およびコントローラー付属
測定できる単位:
輝度・色温度・分光放射輝度

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概要

OL426-S低輝度レベル積分球校正標準光源は、 マイクロフォトメータ、イメージインテンシファイア、テレフォトメータ、イメージング分光放射計の測光、放射測光、分光放射測光を正確に校正するために設計されています。 大面積、均一、拡散放射の光源で、ほぼ正常な輝度を持ち、色温度を変えることなく数桁にわたって変化させることができます。
開口部の開閉は手動で行うことで出力調整が可能です。
輝度・分光放射輝度・色温度の値付けがされています。
積分球サイズは6/8/12/18inchから選択可能です。

200



OL426-OH光源部仕様

不確かさ 輝度

@2856Kk=2

±0.5%NISTに対して)

±2.0%(23003000K)

±2.0%~±3.5%(20002300K)

不確かさ 分光放射輝度

@550nmk=2

±2%(NISTに対して)

色温度範囲

2000~3000K

不確かさ 色温度(k=2

±25K

輝度安定性(@2856K)

短期間使用:±0.5%(ウォームアップ15分後)

長期間使用:±2%(使用時間100時間もしくは1年間)

放射輝度安定性

±0.5%(ウォームアップ15分後)

±4%@350nm(使用時間100時間もしくは1年間)

±2%@550nm(使用時間100時間もしくは1年間)

±3%@1000nm(使用時間100時間もしくは1年間)

積分球コーティング

>99%(3501100nm)

輝度モニター(内蔵)

CIE分光応答度フィルター付

高精度シリコンディテクター(温調機能付属)

可変アパーチャー

手動マイクロメーター制御

シャッター

手動開閉制御

寸法

OL426-SA

L65.38 x W26.24 x H21.29 cm

OL426-8SA

L70.36 x W26.37 x H23.50 cm

OL426-12SA

L81.28 x W33.66 x H35.56 cm

OL426-18SA

L97.10 x W54.02 x H51.44 cm

重量

OL426-SA 10.89Kg

OL426-8SA 13.60Kg

OL426-12SA16.10Kg

OL426-18SA19.05Kg

 



OL400-CS制御部仕様

電源

レンジ

0.0016.6A

分解能

0.001A

精度

0.02% フルスケール

安定性

10ppm (ウォームアップ後)

線間電圧感度

< 2 ppm/V

温度感度

< 25 ppm/

フォトメーター

レンジ

2E-102E-3 A

分解能

41/2 Digits (0.0001E-xA)

精度

レンジE-3E-7 0.005%+1Digit

レンジE-8E-9 0.10%+1Digit

レンジE-10     : 0. 5%+2Digit

レンジ選択

自動、手動、ソフトウェア選択

応答時間

0.110.0

全体

寸法

33.65 x 23.83 x 13.67 cm

重量

7.9Kg

入力電圧

100/115/230 VAC

3.2/3.2/2 A50/60 Hz

動作温度

1535

動作湿度

1085%(非結露)

 



校正オプション(X:積分球サイズ)

OL426-XS

輝度、色温度

OL426-XS-1

輝度、色温度、分光放射輝度*3501100nm

OL426-XS-U

校正無し

*X」は積分球の直径を表します。

*指定が無ければ3000K以下の色温度で測定

 



輝度レベル(公称値)仕様

型番

積分球サイズ

出光ポートサイズ

均一性

最大輝度

@2856K

@3000K

OL426-6S

6インチ(φ15.24cm)

1.5インチ(φ3.81cm)

±1.0%

137 cd/m2

240 cd/m2

OL426-8S

8インチ(φ20.32cm)

2インチ(φ5.08cm)

±1.0%

100 cd/m2

137 cd/m2

OL426-12S

12インチ(φ30.48cm)

3インチ(φ7.52cm)

±1.0%

48 cd/m2

79 cd/m2

OL426-18S

18インチ(φ45.72cm)

6インチ(φ15.24cm)

±2.0%

13.7 cd/m2

24 cd/m2

 

測定・校正に関して
こんなお悩みがありましたらご相談下さい。

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