分光放射計 GS-1290
- 波長域:200-1100nm
- 希望に応じた各種アクセサリ(積分球、光度アクセサリ、ゴニオ、放射輝度用ヘッド、反射用ヘッド、透過用ヘッド)
- 高分解能:0.5nm
- 専用ソフトウェア(Light Touch)にて制御、DLLも提供可能
- 大型ロボットと組み合わせた自動測定も可能
- 光安全性に関する測定に対応
- NVIS測定システムにつきましては GS-1290-NVISを参照ください
- 測定できる単位:
- 照度、放射照度、色度、色温度、全光束、放射束、光度、放射強度、輝度、放射輝度、透過率、反射率、配光特性
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概要
NIST準拠の標準光源で校正された高精度分光放射計です。
各種アクセサリと組み合わせることで、様々な測定パラメータに対応可能です。
裏面照射冷却型CCDアレイディテクタを使用しており、高ダイナミックレンジ及び高精度な測定を可能にします。仕様
仕様 GS-1290-DMS-1 GS-1290-DMS-2 GS-1290-DMS-3 測定波長範囲 360 ~ 800 nm
200 ~ 800 nm w/quartz optics360 ~ 800 nm
200 ~ 800nm w/quartz optics360 ~ 940 nm 測定波長間隔 0.6 nm/素子 0.9 nm/素子 0.6 nm/素子 分光半値幅 半値幅選択可能。ハイライト表示された値は工場出荷時の設定値です。 分光半値幅 10 nm 20 nm 10 nm 5.0 nm 10 nm 5.0 nm 2.5 nm 5.0 nm 2.5 nm 1.8 nm 2.7 nm 1.8 nm 1.2 nm 1.8 nm 1.2 nm 波長繰返し精度 0.02 nm 0.03 nm 0.02 nm 波長精度 ±0.25 nm ±0.25 nm ±0.25 nm 主要性能 GS-1290-DMS-1 GS-1290-DMS-2 GS-1290-DMS-3 迷光 <1.0 x 10-4 偏光誤差(1) <1% 測定角 5°、2°、1°、0.5°、0.33°、0.1°(ユーザー選択可) 最小測定距離 マクロレンズ使用時69mm。 1回の校正で100mmから無限大まで有効 積分時間 8ミリ秒~ 520秒 ソフトウェア USB2.0インターフェース、Windows®用Light TouchTMソフトウェア搭載CIE1931 XYZ および xy、CIE1976 UCS u'v'、CIE1976 L*u*v*
および L*a*b* 、CIE1964 XYZ で解析可能使用環境 0~35℃ 相対湿度 95%(非結露)、 100 ~ 240VAC、50/60 Hz時 寸法 151mm(H)×308 mm(W)×300 mm(L) 重量 9kg (1) グラントムソンプリズムによる直線偏光の測定 NVIS測定システムにつきましては GS-1290-NVISを参照ください
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- LED測定、ディスプレイ測定
- フィルム反射率、膜厚測定
- NED(Near-Eye-Display)ロボット測定システム
- 光安全性に関する測定
- NVIS測定システムにつきましては GS-1290-NVISを参照ください