反射率・透過率測定システム GS-191シリーズ
- 薄膜の分光反射率・透過率測定システム
- 厚さ0.3mmまでのサンプル測定が可能
- 波長範囲：365～1100nm
- 全自動・半自動での高速測定に対応
- ご要望に合わせてカスタム可能
- 測定できる単位：
- 分光反射率及び色度（CIE1931 ｘ,ｙ）、三刺激値 XYZ、CIE Lab、CIE Luv
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概要
反射率・透過率測定システム GS-191シリーズ反射率測定装置と光透過率測定システムは、薄膜コーティングの完全な分光特性と色特性評価を、通常1秒以下のスキャンタイムで行います。 191反射率計は、厚さ0.3mmまでの透明基板の第一面の反射率を、裏面反射率を100%排除して非破壊で測定できる唯一無二の装置です。 また、基板内の他の面からの反射を排除することにより、中間面における第二面または第二層の中間反射率の特性評価も可能です。
本測定システムは、鏡面（光沢あり）または拡散（光沢なし）サンプルなど、サンプルの種類や希望する測定結果に合わせて最適化され、複数のシステム構成が用意されています。 以下の製品選択ガイドからお客様のニーズに合った最適なシステムをお選びください。
光学ヘッド
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GS-191F
191F反射率測定ヘッドは、0～45°の固定入射角モデルです。 また、入射角が可変する携帯型モデルもご用意しています。 ガラス、プラスチック、金属、研磨された 基板上の第一面反射または全鏡面反射が可能で、0.15 mmまでの薄い試料サイズに使用できます。 波長帯域は365nmから1100nmまでです。
- 1測定あたり300msecという短いスキャンタイムで、非破壊的に完全な分光特性および色特性を評価可能
- 厚さ0.15mmまでのガラス基板の第一面を、第二面のマスキングなしに別々に測定可能
- 全反射率測定または内部光学インターフェースの特定
- 拡散面や鏡面に対するテスト機能
- ハンドヘルド、セミオート、フルオートロータリーシステム、ロボットローディングなどの構成が可能
GS-191F 仕様 型式名 191F-0 191F-10 191F-20 191F-45 測定タイプ 全鏡面反射 一層表面または全鏡面反射 一層表面または全鏡面反射 一層表面または全鏡面反射 対応サンプル ガラス/プラスチック/金属/研磨された基盤 ガラス/プラスチック/金属/研磨された基盤 ガラス/プラスチック/金属/研磨された基盤 ガラス/プラスチック/金属/研磨された基盤 光源入射角 0° 10° 20° 45° 観測角 0° 10° 20° 45° サンプル最小厚み 透明 なし 0.5mm 0.35mm 0.15mm 不透明 なし なし なし なし サンプル最大厚み なし なし なし なし 最小サンプルサイズ なし 直径 50mm
または正方形 45mm x 45mm直径 50mm
または正方形 45mm x 45mm直径 50mm
または正方形 45mm x 45mm最大サンプルサイズ 直径 75mm なし なし なし 波長範囲 365-1100nm 365-1100nm 365-1100nm 365-1100nm 照射スポット径 Ø 0.5mm 1mm x 10µm 1mm x 10µm 1mm x 10µm 測定スピード
※サンプルによって異なる≈500-10000ms ≈300-3000ms ≈300-3000ms ≈300-3000ms 校正参照標準 光学ガラス 光学ガラス 光学ガラス 光学ガラス ヘッド寸法及び重量 高さ: 375mm
幅: 300mm
深さ: 300mm
重量: 2.25kg高さ: 230mm
幅: 150mm
深さ: 150mm
重量: 1.6kg高さ: 230mm
幅: 150mm
深さ: 150mm
重量: 1.6kg高さ: 230mm
幅: 150mm
深さ: 150mm
重量: 1.6kg精度 分光反射率 ± 0.2% ± 0.2% ± 0.2% ± 0.2% 三刺激値(CIE 1931 X, Y, Z) ± 0.05 ± 0.05 ± 0.05 ± 0.05 色度(CIE 1931 x, y) ± 0.002 ± 0.002 ± 0.002 ± 0.002 Lab 色空間(CIE 1976 L*, a*, b*) L* ± 1.0 a*, b* ± 0.8 L* ± 1.0 a*, b* ± 0.8 L* ± 1.0 a*, b* ± 0.8 L* ± 1.0 a*, b* ± 0.8 平均反射 ± 0.1 ± 0.1 ± 0.1 ± 0.1 測定項目 分光データ 波長関数としての反射率 色データ CIE 三刺激X, Y, Z、2°または10° 視野、（L*, a*, b*、（x, y）、（u', v'）、およびその他のパラメータ 光源重み付け A 光源、B 光源、C 光源、D65 光源、またはユーザー指定のカスタム光源 GS-191FA 回転式反射率測定システム(全自動タイプ)
GS-191-FA-1045は、全自動タイプの測定システムです。コーティングガラス、基板、拡散面の分光特性および色特性を、第二面（二層目）のマスキングなしに0°および45°の入射角で同時に自動測定します。 500µmまでの薄い基板を、通常1測定あたり200 msecでテストすることが可能です。
- 1測定あたり200msecという短いスキャンタイムで、非破壊的に完全な分光特性および色特性を評価可能
- 厚さ500μmまでのガラス基板の第一面を、第二面のマスキングなしに別々に測定可能
- 全反射率測定または内部光学インターフェースの特定
- 拡散面や鏡面に対するテスト機能
- プログラム可能なマルチロケーション測定、合否判定機能、ビニング機能
GS-191-FA-1045 仕様 光学ヘッド ヘッド種類 ※0、20も選択可能 191F-10 191F-45 測定タイプ 一層鏡面反射 一層鏡面反射 対応サンプル ガラス ガラス 光源入射角 10° 45° 観測角 10° 45° サンプル最小厚み ※一層反射のみ 0.5mm 0.25mm サンプル最大厚み 6mm 6mm 最大サンプルサイズ 要相談、最大3種類までサポート可能 波長範囲 360-830nm 360-830nm 照射スポット径 1mm x 10µm 1mm x 10µm 測定スピード <1500ms <1500ms 校正参照標準 BK-7光学ガラス(内蔵) BK-7光学ガラス(内臓) 分光反射率 ± 0.5% ± 0.5% 三刺激値 (CIE 1931 X, Y, Z) ± 0.05 ± 0.10 色度 (CIE 1931 x, y) ± 0.005 ± 0.005 Lab色空間(CIE 1976 L*, a*, b*) L* ± 2.0 a*, b* ± 0.8 L* ± 2.0 a*, b* ± 0.8 平均反射 ± 0.2 ± 0.2 回転ステージ 光学ヘッド 191F-1045 1サンプルあたりの測定位置 標準3ヶ所（最大5ヶ所） ガラス基板 取り付け用3基、測定光学部品用5基 サイクルタイム ＜1サンプルあたり6秒（取り付け・取り外し時間3秒含む） 分光データ 波長関数としての反射率 色データ CIE三刺激X, Y, Z、2°または10°視野、（L*, a*, b*）、（x, y）、（u', v'）、およびその他のパラメータ 寸法及び重量 高さ：1.75m 幅：1.6m 奥行：1.6m 重量：1000kg 環境条件 温度：0～35℃ 湿度：90%以下（非結露） GS-191SA 手動式ゴニオ反射率測定システム（半自動タイプ）
GS-191SA-1045 は、手動でサンプル取り付けを行う半自動タイプの測定システムです。 コーティングガラス、基板、拡散面の分光特性および色特性を、第二面（二層目）のマスキングなしに0°および45°の入射角で同時に自動測定します。 500 µmまでの薄い基板を、1測定ポイントあたり200 msecのスキャン時間でテストすることができます。
- 1測定あたり200msecという短いスキャンタイムで、非破壊的に完全な分光特性および色特性を評価可能
- 厚さ500μmまでのガラス基板の第一面を、第二面のマスキングなしに別々に測定可能
- 全反射率測定または内部光学インターフェースの特定
- 拡散面や鏡面に対するテスト機能
- プログラム可能なマルチロケーション測定、合否判定機能、ビニング機能
GS-191-SA-1045 仕様 光学ヘッド ヘッド種類 ※0、20も選択可能 191F-10 191F-45 測定タイプ 一層鏡面反射 一層鏡面反射 対応サンプル ガラス ガラス 光源入射角 10° 45° 観測角 10° 45° サンプル最小厚み ※一層反射のみ 0.5mm 0.25mm サンプル最大厚み 6mm 6mm 最大サンプルサイズ 400mm × 350mm 400mm × 350mm 波長範囲 360-830nm 360-830nm 照射スポット径 1mm x 10µm 1mm x 10µm 測定スピード <1500ms <1500ms 校正参照標準 BK-7光学ガラス(内蔵) BK-7光学ガラス(内臓) 分光反射率 ± 0.5% ± 0.5% 三刺激値 (CIE 1931 X, Y, Z) ± 0.05 ± 0.10 色度 (CIE 1931 x, y) ± 0.005 ± 0.005 Lab色空間(CIE 1976 L*, a*, b*) L* ± 2.0 a*, b* ± 0.8 L* ± 2.0 a*, b* ± 0.8 平均反射 ± 0.2 ± 0.2 ゴニオステージ 光学ヘッド 191F-1045 測定プログラムの種類 5個のプログラムから選択可能 最大でサンプルサイズ10種に個別に設定可能 測定位置 10種類のパネルサイズに対して、1mmの分解能で位置座標を個別に設定可能 コーナー位置が均等な各エッジから10 mmのデフォルトグリッド線 サイクルタイム プログラムに依存、各測定ポイントで約1500msec 分光データ 波長関数としての反射率 色データ CIE三刺激X, Y, Z、2°または10°視野、（L*, a*, b*）、（x, y）、（u', v'）、およびその他のパラメータ 寸法及び重量 高さ：1.25m 幅：1.0m 奥行：1.0m 重量：300kg 環境条件 温度：0～35℃ 湿度：90%以下（非結露） -
- 反射防止膜の特性評価
- フラットパネルディスプレイ用ガラスの試験
- タッチスクリーンディスプレイ用ガラスの検査
- 光学フィルター及びレンズ試験
- パイロリティックガラスコーティングのテストと特性評価
- フラットパネルディスプレイ、太陽光パネルコーティング、Low-Eコーティング、塗装サンプル、拡散性プラスチックの特性評価
