OMI シングルパスシャックハルトマンセンサー

  •  幅広い波長域に対応のラインナップ (UV, VIS, SWIR, MWIR,LWIR) 
  •  高精度(λ/60)及び高繰り返し測定精度(λ/1000)
  •  コンパクトで軽量な筐体
  •  イメージ取得と解析のための専用ソフトウェア Sensoft
  •  Zernike解析(焦点距離、コマ、球面収差、非点収差・・・・ 50次以上)、PSF、MTF
  •  様々なビーム径を提供のための豊富なレンズアクセサリ
  •  ユーザーサイトでの校正による高精度測定

概要

Spot Optics 社の最先端テクノロジーが詰まったシングルパスシャックハルトマンセンサー OMIシリーズです。UV域からMWIR域の対応した全部で8個のモデルが用意されています。 ユーザーは自分で簡単にキャリブレーションを成し遂げることができ、シングルパスによる透過、反射波面の高精度測定を提供致します。

波面センサーには測定に有効なアクセサリーが付属されています

外部校正ユニットCal25
外部電動校正ユニットECM25

外部校正ピンホール光源PH50
ビームエキスパンダー/ビームコンプレッサーBE25、BE60およびBE120

マウンティング付きの標準光源

マウンティング付きのフラットミラー

対物レンズ

光学素子取付マウント
電動ステージ

ソフトウェアについてはこちらをご参照ください。

アプリケーションソフトウェア SenSoft 解析結果例

  • レンズ性能評価(MTF,EFL,BFL,ザイデル収差,面形状等) 
  • HUD、VR、AR
  • 光学部品の波面収差測定(面精度等) 
  • 光学システムや光学モジュールのアライメント調整 
  • 天体望遠鏡用反射ミラーの応力測定 
  • レーザーの透過波面測定 
  • コンタクトレンズ 

概要


測定・校正に関して
こんなお悩みがありましたらご相談下さい。

  • どの様に光学測定をすればよいのか分からない
  • 複雑な形状な物の測定をしたい
  • 製品の光安全性のリスク評価が欲しい
  • ISO17025認定の光学校正が必要
  • 開発品の評価をして欲しい
  • 第三者測定機関による品質評価をして欲しい

電話でのお問い合わせ

( 平日 9:00 ~ 17:00 )