OMI シングルパスシャックハルトマンセンサー
- 幅広い波長域に対応のラインナップ (UV, VIS, SWIR, MWIR,LWIR)
- 高精度(λ/60)及び高繰り返し測定精度(λ/1000)
- コンパクトで軽量な筐体
- イメージ取得と解析のための専用ソフトウェア Sensoft
- Zernike解析（焦点距離、コマ、球面収差、非点収差・・・・ 50次以上）、ＰＳＦ、ＭＴＦ
- 様々なビーム径を提供のための豊富なレンズアクセサリ
- ユーザーサイトでの校正による高精度測定
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概要
Spot Optics 社の最先端テクノロジーが詰まったシングルパスシャックハルトマンセンサー OMIシリーズです。UV域からMWIR域の対応した全部で８個のモデルが用意されています。 ユーザーは自分で簡単にキャリブレーションを成し遂げることができ、シングルパスによる透過、反射波面の高精度測定を提供致します。
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波面センサーには測定に有効なアクセサリーが付属されています
外部校正ユニットCal25
外部電動校正ユニットECM25
外部校正ピンホール光源PH50
ビームエキスパンダー/ビームコンプレッサーBE25、BE60およびBE120
マウンティング付きの標準光源
マウンティング付きのフラットミラー
対物レンズ
光学素子取付マウント
電動ステージ
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ソフトウェアについてはこちらをご参照ください。
アプリケーションソフトウェア SenSoft 解析結果例
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- レンズ性能評価（MTF,EFL,BFL,ザイデル収差,面形状等）
- HUD、ＶＲ、ＡＲ
- 光学部品の波面収差測定（面精度等）
- 光学システムや光学モジュールのアライメント調整
- 天体望遠鏡用反射ミラーの応力測定
- レーザーの透過波面測定
- コンタクトレンズ
概要
