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紫外/可視/近赤外 分光放射照度計 SRI-2000 シリーズ|積分球内蔵・ハンディ型

  • 250~1050 nm対応のモデル構成
  • 積分球内蔵・ハンディ型で現場測定に向く
  • 照度、放射照度、光束、放射束、λp、λd、色度、CCTを確認可能
  • IEC 62471評価の前工程データ取得に有用
  • UV LED、一般照明、ディスプレイ、NIR光源まで幅広く対応
測定できる単位:
照度、放射照度、光束、放射束、λp(ピーク波長)、λd(主波長)、色度(x, y)、色温度、分光分布図

積分球内蔵で再現性を確保しながら、UV・可視・近赤外の分光測定を1台で効率よく行えます。

概要

SRI-2000シリーズは、紫外域・可視域・近赤外域の測定に対応したハンディ型分光放射計です。PTFEコーティング積分球と暗電流補正機能を備えたCCD検出器を搭載し、照度、分光放射照度、光束、放射束、色度、相関色温度、ピーク波長、ドミナント波長、半値幅などを現場で確認できます。
本体のカラーディスプレイで測定結果をその場で確認でき、USB接続によりPCソフトウェアからのデータ保存・可視化・CSV出力にも対応します。研究開発だけでなく、量産工程の抜き取り確認、屋外や現場での簡易評価、IEC 62471評価前の基礎データ取得にも適しています。

SRI-2000シリーズのセット内容

SRI-2000シリーズ本体と画面表示

モデル選定の目安

  • SRI-2000UV:UV LED、殺菌・表面改質用途、紫外域を含む評価に適したモデル
  • SRI-2000LM:一般照明、ディスプレイ、色度・CCT確認など可視域中心の用途に適したモデル
  • SRI-2000IR / IRA:IR LED、VCSEL、LiDAR、近赤外光源の評価に適したモデル
  • SRI-2000IR-FB / LS:狭所測定、装置組込み、近赤外の高分解能評価に適したモデル

SRI-2000 ラインナップ比較表

各モデルの波長レンジ・用途・特長の比較
モデル 測定波長範囲 受光 / 構成 主な用途 特長 代表的な出力項目
SRI-2000UV 250–780 nm 29 mm積分球(コサイン特性) UVC / UVB / UVA LED、表面改質、衛生・殺菌評価 UV~可視端までを広くカバーし、前工程データ取得に適する 分光放射照度、放射束 / 光束、λp / λd、CCT / 色度(可視域)
SRI-2000LM 350–780 nm 29 mm積分球(コサイン特性) 一般照明、表示体、色度・CCT管理 可視域専用で、色度・CCT・演色評価に適する 分光放射照度、照度、光束、色度(x,y)、CCT、CRI
SRI-2000IR 350–950 nm 29 mm積分球(コサイン特性) IR LED / レーザー、近赤外一般評価 IR中心の汎用モデル。0.5 nm分解能、FWHM約6 nmクラス 分光放射照度、放射束、λp / λd、FWHM
SRI-2000IRA 500–1050 nm 29 mm積分球(コサイン特性) LiDAR / VCSEL(905 / 940 nm)、顔認証IR、NIR評価 NIR上側まで拡張。LiDAR前工程の波長・幅確認に適する 分光放射照度、λp / λd、FWHM、E@距離、相対配光
SRI-2000IR-FB 350–950 nm 着脱式光ファイバー受光(1.5 m) 狭スポット / 離隔位置でのIR測定、治具組込み、迷光低減 受光部を分離でき、装置内・狭所測定で扱いやすい 分光放射照度、λp / λd、FWHM、E(ログ / 連続)
SRI-2000LS 700–1050 nm 29 mm積分球(コサイン特性) 近赤外(NIR)高精細評価、905 / 940 nm周辺の厳密管理 NIR特化。波長分解能0.5 nm、FWHM約3 nmの高分解能設定 分光放射照度、λp / λd、FWHM

注:各モデルの有効レンジや実効性能は、光源種類・出力・測定条件により変動します。詳細はカタログ・取扱説明書をご参照ください。

測定できる主な項目

  • 分光分布(波長ごとの放射強度)
  • 放射照度 E(W/m²)および照度(可視モデル)
  • 光束 / 放射束(積分球受光時)
  • ピーク波長 λp / ドミナント波長 λd / 半値幅 FWHM
  • 色度座標・相関色温度 CCT(可視モデル)

主な特長

  • 積分球内蔵:モジュールから器具まで安定した受光条件で測定しやすく、光束 / 放射束評価に有利
  • ハンディ × スタンドアローン:本体表示でその場確認、USB接続でPC制御・CSV出力にも対応
  • 暗電流補正:移動環境でも再現性の高いスペクトル取得に寄与
  • 用途に応じたモデル構成:UV、可視、IR、NIRの各用途に合わせて選定可能

同梱物(標準)

  • 本体(選択モデル)
  • USBケーブル / ACアダプタ
  • PCソフトウェア
  • クイックスタートガイド / 取扱説明書
  • 出荷時点検記録

オプション・アクセサリ

  • NDフィルタ:高出力光源の飽和回避
  • 遮光フード・三脚・角度治具:屋外・ラインサイド測定時の迷光低減と再現性向上
  • 温調ステージ / 位置決め治具:VCSEL、μLEDなどの温度・位置依存評価
  • 評価テンプレート:LiDAR距離特性、VCSEL均一性、ビニング規準の整理に活用

安全・規格メモ

  • IEC 62471等の光生物学的安全性評価は、規格条件に基づく試験が必要です。本機は前工程データ(分光放射照度・波長帯確認)の取得に有用です。
  • IEC 60825-1に基づくレーザー製品のクラス判定には、別途ビーム計測が必要です。

資料ダウンロード

SRI-2000シリーズは本体だけでも測定できますが、USB接続によりPCソフトウェアから 測定実行、結果の可視化、ファイル保存、CSVエクスポートが行えます。 現場での即時確認からレポート作成までを効率よく進めたい場合に有効です。

主な機能

  • 測定実行:単発測定、連続測定(ログ)、条件プリセットの呼び出し
  • 表示:分光分布グラフ、主要数値(λp・λd・FWHM・放射照度・光束 / 放射束 ほか)
  • 保存:プロジェクト単位での保存、再読込、比較確認
  • 出力:CSV、画像、表形式レポートのベースデータ出力
  • トレンド確認:連続測定によりCCT、色度、放射照度の時系列推移を確認

画面イメージ

SRI-2000ソフトウェアの測定画面

測定画面:左に操作パネル、中央にスペクトル、下部に主要指標一覧を表示。

SRI-2000ソフトウェアのデータ管理画面

データ管理画面:測定ファイルの再読込、メタ情報確認、数値比較、スペクトル表示に対応。

PC使用時の基本ワークフロー

  1. 接続・認識:USB接続後、測定条件(積分時間、平均化、ND使用有無)を設定
  2. 測定:単発測定は「Measure」、推移確認は「Continuous Measure」を選択
  3. 確認:スペクトル形状と主要指標(λp・λd・FWHM・放射照度 ほか)を確認
  4. 保存:プロジェクト保存し、必要に応じてコメント、ロット番号、距離などを記録
  5. 出力:CSVエクスポート後、既定テンプレートに読み込んで合否判定やグラフ作成に活用

CSV出力項目例

列名 内容
timestamp 測定日時(ISO形式) 2025-03-01T14:32:05
lambda_p_nm ピーク波長 940.3
lambda_d_nm ドミナント波長 938.9
FWHM_nm 半値幅 3.8
E_W_m2 放射照度 0.124
luminous_flux_lm / radiant_flux_W 光束 / 放射束(積分球受光時)
notes 距離・治具・ロットなどのメモ 1 m, ND0.6

LiDAR評価(850 / 905 / 940 nm)

目的:車載、ロボティクス、ドローン向けLiDARのピーク波長ドミナント波長半値幅放射照度分布の把握と、ドット / ラインパターンの相対配光確認。
推奨モデル:SRI-2000IRA(500–1050 nm) / SRI-2000IR(350–950 nm)
主要指標:λp、λd、FWHM、放射照度 E(W/m²)、相対強度分布、積算放射束

測定ワークフロー

  1. 準備:NDフィルタで飽和回避、暗電流補正、積分時間を低めに設定
  2. 近距離スペクトル:光源前方10~20 cmで分光分布とλp / λdを取得
  3. 距離特性:1 m / 3 mでEを測定し、相対減衰と照射パターンを比較
  4. 配光確認:走査または治具による角度変更で相対配光カーブを作成
  5. 記録:CSV出力後、波長レンジ、FWHM、E@1 mなどの品質基準で合否判定

注意:パルスLiDARのパルス幅やピーク出力は、別途パワーメータや高速PDによる補完が必要です。本機は分光情報と平均放射照度の取得に有用です。


顔認証用レーザー光源(VCSELアレイ / ドットパターン)

目的:IRカメラ感度帯に合わせた波長最適化(850 / 940 nm)と、ドットパターンの均一性外乱耐性の確認。
推奨モデル:SRI-2000IRA(500–1050 nm)
主要指標:λp、λd、FWHM、E@指定距離、ドット間相対比(中心 / 周辺)

測定ワークフロー

  1. 安全配慮:直視禁止、迷光防止フード使用、NDフィルタ装着
  2. 基準距離測定:想定使用距離(例:30~50 cm)で分光分布とEを取得
  3. 均一性確認:画角中央と四隅でEとスペクトルを比較し、中心 / 周辺比を算出
  4. 温度依存性:素子温度を変えながらλpシフト量を確認
  5. 成果整理:λp / λdの合否、中心 / 周辺比、E@距離を一覧化

LED・マイクロLED・レーザーの総合評価

目的:開発・量産における発光スペクトル管理と、最終製品の色度 / CCT(可視)放射照度 / 線量(UV / IR)の統合評価。
推奨モデル:UV中心はSRI-2000UV、可視中心はSRI-2000LM、IR中心はSRI-2000IR / IRA
主要指標:λp、λd、FWHM、分光放射照度、放射束 / 光束、x,y、CCT

測定ワークフロー

  1. 発光体単体:積分球受光で光束 / 放射束と分光分布を同時取得
  2. モジュール / 器具:照射面でEと色度 / CCTを測定し、UVでは線量設計の前提となるEを確認
  3. ばらつき評価:同ロットn台のλpヒストグラムとEのσ / μを出力
  4. 成果物整理:量産受入試験に使うしきい値表やビニング基準を作成

屋外測定(街路灯・サイネージ・自然光評価 等)

目的:現場での分光特性照度 / 放射照度色度 / CCTを短時間で再現性よく取得。
推奨モデル:可視中心はLM、IRはIR / IRA、UVはUVモデル
主要指標:分光放射照度、CCT / 色度、日中・夜間の時系列トレンド

測定ワークフロー

  1. 環境対策:三脚固定、遮光フード使用、ダーク補正実施
  2. 角度管理:被測定面に対しコサイン入射となるよう固定
  3. 時系列取得:1~5秒間隔の連続測定でスペクトル変化を記録
  4. 迷光確認:背景光あり / なしで測り分け、差分スペクトルを確認
  5. 成果物整理:CCT推移グラフ、昼夜スペクトル比較、Eの最大 / 最小 / 平均をまとめる

用途 × 機種 × 成果の早見表

各用途に対する推奨モデル・代表指標・典型距離・推奨アクセサリ・成果物の一覧
用途 推奨モデル 代表指標 典型距離 推奨アクセサリ 成果物例
LiDAR IRA / IR λp, λd, FWHM, E@1 m, 相対配光 0.2 / 1 / 3 m NDフィルタ、遮光フード、三脚 相対配光カーブ、E距離特性CSV
顔認証VCSEL IRA λp, 均一性(中心 / 周辺比), E@30–50 cm 0.3–0.5 m NDフィルタ、位置決め治具 均一性レポート、λシフト表
LED / μLED / レーザー UV / LM / IR(A) λp, FWHM, 光束 / 放射束, CCT / 色度 受光条件による 取付治具、温調ステージ ビニング基準、合否しきい値表
屋外測定 用途に応じ選択 分光E, CCT / 色度, 時系列トレンド 設置条件による 三脚、遮光フード 昼夜スペクトル比較、CCT推移

SRI-2000シリーズ取扱説明書表紙

SRI-2000シリーズ取扱説明書 ダウンロード

概要説明

Optimum社のSRI-2000分光放射計は、コンパクトで高性能なツェルニーターナー分光器を採用し、 SSLモジュール、照明器具、一般照明システムを含む各種光源の主要な照度・測光パラメータを測定できます。
ハンドヘルド型で持ち運びやすく、必要な場所へ持ち込んでその場で測定できる点が特長です。
主な測定項目は、照度(lx)、分光放射照度、色度座標 CIE1931(x, y)、CIE1976(u', v')、 相関色温度(CCT)、主波長(λd)、半値幅(FWHM)、ピーク波長(λp)、色純度などです。

Optimum社総合カタログ(約20MB) ダウンロード


Optimum社 会社概要

Optimum社は、研究開発、品質管理、製造試験向けに、リーズナブルな価格で高精度かつカスタマイズ性の高い光測定ソリューションを提供することを目的として1996年に設立されました。
分光放射計、積分球、光検出器、均一光源、ゴニオメーターなど幅広い製品を展開し、ポータブル分光放射計、LED測定システム、照明・色彩試験システム、反射率・透過率測定システムなどを提供しています。
標準製品に加え、研究用途および製造用途の双方に対応したカスタムソリューションの開発・統合にも対応しています。台湾・竹北に本社を置き、研究開発、製造、販売を展開しています。


用語解説

  • 分光放射照度:波長ごとの放射パワーを単位面積当たりで表した量
  • 光束 / 放射束:全波長にわたる光 / 放射の総量
  • λp(ピーク波長) / λd(ドミナント波長):発光スペクトルの代表値
  • IEC 62471:光源の光生物学的安全性を評価する国際規格
  • ISO/IEC 17025:校正・試験所の能力に関する規格

測定・校正に関して
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