OOC-SM-2000 ミラー型反射率測定システム
- 分光反射率 (45°/45°) 測定
- 420-850 nmの広範囲にわたる波長をカバー
- 0.5nmのスペクトル分解能
- 1nmの波長繰返し精度
- 反射率応答曲線、各波長の反射率、全波長における各ポイントのデータ表示
- 測定できる単位：
- 反射率
-
概要
OOC-SM-2000 ミラー型反射率測定システムは、全光譜手動反射率 (45°/45°) 測定に対応し、研究開発から品質管理まで幅広い用途で高信頼性の反射率測定を提供します。
-
モデルタイプ OOC-SM-2000 ミラー型反射率測定システム 機能 反射率測定 検出器 ソニー製CCDアレイ 波長範囲 420～850 nm 測光精度 ± 0.5% @555 nm 測光再現性 ± 1% (400～800 nm)、他の波長は±2% スペクトル分解能 0.5 nm 波長再現性 1 nm 光源 ハロゲン光源 スポット径 > 5 mm 測定時間 0.5～10 秒 測定項目 反射率応答曲線(サンプル反射スペクトル)の表示、
各波長の反射率表示、全波長での各波長のデータ表示、
測定データ保存対応OS Windows 7 ～ 11 / USB 2.0 -
Optimum社総合カタログ(約1.3MB)ダウンロード
紫外/可視/近赤外-分光放射照度計 SRI-2000シリーズ 製品情報
Optimum 製品情報
