波面収差測定器
Wavefrontaberration
iOptino シャックハルトマンセンサー
- 測定スポット 75×75、解析画像取り込み角1.7度
- CMOSオートコリメーター 精度0.5”
- コンパクトで軽量な筐体
- イメージ取得と解析のための専用ソフトウェア Sensoft
- 波面収差精度rms:λ/1000
- WF高速スキャン 10Hz
- 高速イメージスキャン 100Hz
- 様々なビーム径を提供のための豊富なレンズアクセサリ
- ユーザーサイトでの校正による高精度測定
OMI シングルパスシャックハルトマンセンサー
- 幅広い波長域に対応のラインナップ (UV, VIS, SWIR, MWIR,LWIR)
- 高精度(λ/60)及び高繰り返し測定精度(λ/1000)
- コンパクトで軽量な筐体
- イメージ取得と解析のための専用ソフトウェア Sensoft
- Zernike解析（焦点距離、コマ、球面収差、非点収差・・・・ 50次以上）、ＰＳＦ、ＭＴＦ
- 様々なビーム径を提供のための豊富なレンズアクセサリ
- ユーザーサイトでの校正による高精度測定
軸上・軸外波面収差測定器 5STAR
- 軸上と軸外の波面及びＭＴＦ解析を一括で行うことが可能
- 高速タクトタイムでの量産検査に対応
- イメージ取得と解析のための専用ソフトウェア Sensoft
- 携帯カメラレンズや車載用レンズの量産検査に最適
- コンパクトで軽量な筐体
- 標準5軸測定、カスタムにて9軸へのアップグレード可能
- ユーザーサイトでの校正による高精度測定
軸上波面収差測定器 LENTINO
- SHセンサー OMI又はOptinoを選択
- レンズ中心アライメントのためのＸＹステージとチルトステージ
- 光軸での波面収差スキャンのためのＺ軸ステージ
- イメージ取得と解析のための専用ソフトウェア Sensoft
- ユーザーサイトでの校正による高精度測定
- 標準φ12ｍｍビーム径
- エクスパンダ―レンズとの組み合わせでφ60ｍｍまでのビーム径対応
- 自己校正のためのピンホールと組み合わされた透過平行光ユニット搭載
スキャンニング方式 軸上・軸外波面収差測定器 STELLA
- SHセンサー OMI又はOptinoを選択
- レンズ中心アライメントのためのＸＹステージとチルトステージ
- 光軸での波面収差スキャンのためのＺ軸ステージ
- イメージ取得と解析のための専用ソフトウェア Sensoft
- ユーザーサイトでの校正による高精度測定
- 標準φ12ｍｍビーム径
- エクスパンダ―レンズとの組み合わせでφ60ｍｍまでのビーム径対応
- 自己校正のためのピンホールと組み合わされた透過平行光ユニット搭載
軸上波面収差測定器 OPAL300
- レンズ中心アライメントのためのＸＹステージとチルトステージ
- 光軸での波面収差スキャンのためのＺ軸ステージ
- 専用ソフトウェア Sensoftによる装置制御
- イメージ取得と解析のための専用ソフトウェア Sensoft
- ユーザーサイトでの校正による高精度測定
- 標準φ12ｍｍビーム径
- エクスパンダ―レンズとの組み合わせでφ60ｍｍまでのビーム径対応
- 自己校正のためのピンホールと組み合わされた透過平行光ユニット搭載
コンタクトレンズ用SHセンサー CONTOUR
- コンタクトレンズの波面収差測定（度数、球面形状、MTF・・・）
- 乾燥・湿潤状態の両方での評価可能
- コンパクトで軽量な筐体
- 自動レンズ中心アライメント用の専用サンプルケース
- 量産及び研究開発のどちらにも最適
- ボタンを押すだけの簡易・高速測定
天体望遠鏡向けSHセンサー PUNTINO
- 高いダイナミックレンジ
- あらゆる光学収差に対応した波面解析
- 診断プログラムによって補正方向と大きさ(mm)を知ることができる
- 天体望遠鏡の光学コンポーネントのアライメントが可能
- イメージ取得と解析のための専用ソフトウェア Sensoft
- 解析された球面収差から正しい焦点面の発見
- 残存するスポット解析による空気の揺らぎの特定
- 夜間に収差がどのように変化するかのオンラインモニタリング
- 温度の変化にともなう収差変動の相関性チェック
