ダブルモノクロメーター方式紫外（UV）分光放射計OL756

波長域200～800nm間の分光測定に対応
迷光除去性能に優れたダブルモノクロメーターを採用
交換可能なスリットにより波長幅（半値幅）を0.4～10nm の範囲で任意の値に設定可能
高速スキャン/低ノイズ/6 桁のゲインオートレンジ機能
単一ポイントのモニタリング、経時変化のロギング機能
専用ソフトウェアによるコンピューター制御

測定できる単位：: 照度・放射照度・色度・色温度

概要

測定波長200-800nmに対応した分光放射計です。
迷光除去性能に優れたダブルモノクロメーターを採用することで、高精度な測定を実現しています。
交換可能なスリットは波長幅（半値幅）を0.4～10nm の範囲で任意の値に設定できます。
スリットサイズを小さくすることで高分解能の測定、大きくすることで光出力の低い対象の測定が可能になります。

特長

測定波長200-800nmに対応した分光放射計です。
迷光除去性能に優れたダブルモノクロメーターを採用することで、UV領域の高精度な測定を実現しています。

200

仕様

OL756UV-VISモノクロメーター仕様
測定波長範囲	200～800nm
ダイナミックレンジ	10⁷
波長幅(半値幅)	0.4～10nm(半値幅)スリット交換可能
測定スピード	200nm/秒高速スキャンモード時、全波長測定時間3秒
測定モード	固定または自動測定モード
受光部	熱冷却式S-20光電子増倍管(PMT)
接続端子	USB
電源	12VDC

OL756UV-VISソフトウェア仕様
プロットツール/カーソル	高精度分光分析可能
スーパーバイザー及びオペレーターレベルのパスワード	データ及び保存された測定設定を保護します。
Microsoft Office データレポート出力	ExcelやWord上でデータ操作や分析レポートを編集可能
測定結果	色度、Lab、Luv、演色性CRI、分光測定値、太陽灯の露光量比率、 PAR Irradiance、その他
プロット機能	Savitzky-Golay FIR平滑化フィルター機能を維持しながらノイズを低減
ソフトウェア開発キット SDKオプション	カスタムプログラミング
対応OS	Windows10(32、64ビット)