![](https://kyokko.com/wp-content/uploads/2022/06/191シリーズ.jpg)
反射率・透過率測定システム GS-191シリーズ
- 薄膜の分光反射率・透過率測定システム
- 厚さ0.3mmまでのサンプル測定が可能
- 波長範囲:365~1100nm
- 全自動・半自動での高速測定に対応
- ご要望に合わせてカスタム可能
- 測定できる単位:
- 分光反射率及び色度(CIE1931 x,y)、三刺激値 XYZ、CIE Lab、CIE Luv
-
概要
反射率・透過率測定システム GS-191シリーズ反射率測定装置と光透過率測定システムは、薄膜コーティングの完全な分光特性と色特性評価を、通常1秒以下のスキャンタイムで行います。 191反射率計は、厚さ0.3mmまでの透明基板の第一面の反射率を、裏面反射率を100%排除して非破壊で測定できる唯一無二の装置です。 また、基板内の他の面からの反射を排除することにより、中間面における第二面または第二層の中間反射率の特性評価も可能です。
本測定システムは、鏡面(光沢あり)または拡散(光沢なし)サンプルなど、サンプルの種類や希望する測定結果に合わせて最適化され、複数のシステム構成が用意されています。 以下の製品選択ガイドからお客様のニーズに合った最適なシステムをお選びください。
光学ヘッド
-
GS-191F
191F反射率測定ヘッドは、0~45°の固定入射角モデルです。 また、入射角が可変する携帯型モデルもご用意しています。 ガラス、プラスチック、金属、研磨された 基板上の第一面反射または全鏡面反射が可能で、0.15 mmまでの薄い試料サイズに使用できます。 波長帯域は365nmから1100nmまでです。
- 1測定あたり300msecという短いスキャンタイムで、非破壊的に完全な分光特性および色特性を評価可能
- 厚さ0.15mmまでのガラス基板の第一面を、第二面のマスキングなしに別々に測定可能
- 全反射率測定または内部光学インターフェースの特定
- 拡散面や鏡面に対するテスト機能
- ハンドヘルド、セミオート、フルオートロータリーシステム、ロボットローディングなどの構成が可能
-->GS-191F 仕様
型式名
191F-10
191F-20
191F-45
191F-45
測定タイプ
一層表面または
全鏡面反射
一層表面または
全鏡面反射
一層表面または全鏡面反射
一層表面または
全鏡面反射
対応サンプル
ガラス/プラスチック/金属/研磨された基盤
ガラス/プラスチック/金属/研磨された基盤
ガラス/プラスチック/金属/研磨された基盤
ガラス/プラスチック/金属/研磨された基盤
光源入射角
10°
20°
45°
75°
観測角
10°
20°
45°
75°
サンプル最小
厚み
透明
0.4mm
0.35mm
0.15mm
0.15mm
不透明
なし
なし
なし
なし
サンプル
最大厚み
なし
なし
なし
なし
最小サンプルサイズ
直径25mm
または正方形25mm x 25mm
直径25mm
または正方形25mm x 25mm
直径25mm
または正方形25mm x 25mm
直径25mm
または正方形25mm x 25mm
最大サンプルサイズ
なし
なし
なし
なし
波長範囲
380-940nm
380-940nm
380-940nm
380-940nm
照射スポット径
1mm x 10µm
1mm x 10µm
1mm x 10µm
1mm x 10µm
測定スピード
※サンプルに
よって異なる
≈300-3000ms
≈300-3000ms
≈300-3000ms
≈300-3000ms
校正参照標準
150mm
BK-7光学ガラス
150mm
BK-7光学ガラス
150mm
BK-7光学ガラス
150mm
BK-7光学ガラス
ヘッド寸法及び
重量
高さ: 230mm
幅: 150mm
深さ: 150mm
重量: 1.6kg
高さ: 230mm
幅: 150mm
深さ: 150mm
重量: 1.6kg
高さ: 230mm
幅: 150mm
深さ: 150mm
重量: 1.6kg
高さ: 230mm
幅: 150mm
深さ: 150mm
重量: 1.6kg
精度
分光反射率
± 0.05%
± 0.05%
± 0.05%
± 0.05%
三刺激値(CIE
1931 X, Y, Z)
± 0.05
± 0.05
± 0.05
± 0.05
色度(CIE1931x,y)
± 0.002
± 0.002
± 0.002
± 0.002
Lab色空間(CIE 1976 L*, a*, b*)
L* ± 0.5
a*, b* ± 0.4
L* ± 0.5
a*, b* ± 0.4
L* ± 0.5
a*, b* ± 0.4
L* ± 0.5
a*, b* ± 0.4
平均反射
± 0.1
± 0.1
± 0.1
± 0.1
測定項目
分光データ
波長関数としての反射率
色データ
CIE三刺激X, Y, Z、2°または10°視野、(L*, a*, b*)、(x, y)、(u', v')、およびその他のパラメータ
光源重み付け
A光源、B光源、C光源、D65光源、またはユーザー指定のカスタム光源
-
- 反射防止膜の特性評価
- フラットパネルディスプレイ用ガラスの試験
- タッチスクリーンディスプレイ用ガラスの検査
- 光学フィルター及びレンズ試験
- パイロリティックガラスコーティングのテストと特性評価
- フラットパネルディスプレイ、太陽光パネルコーティング、Low-Eコーティング、塗装サンプル、拡散性プラスチックの特性評価