高精度分光放射計システム SM9000
- 透過率/吸収率/スコープグラフ表示
- リファレンス信号の取得
- ボタンクリック/外部トリガー取得制御
- LED光源の色と強度の制御
- FluorCamsおよびFluorometersとの同期接続
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概要
高精度分光照射計SM9000は、高解像度および高感度な製品で、UV/VISからNIRの範囲をファイバーで取り込み測定します。 単体の機器として分光測定を行うことや分光曲線（放射、吸収、放射）の正確な分析のためにPSI機器の拡張機器として 使用できます。
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特長
高感度と熱安定性により、µ-FluorCamデバイスと組み合わせ、個々のセルの蛍光発光スペクトルを測定することが可能です。 スペクトルは、3.5 nm（FWHM）の分解能でUV（200 nm）からNIR（980 nm）の範囲で測定できます。 16ビットのデータ解像度で1秒あたり最大300のスペクトル（外部トリガー入力）をキャプチャします。
ソフトウェア
アプリケーション
